Fil:AFMsetup.jpg

Page contents not supported in other languages.
Fra Wikipedia, den frie encyklopædi

AFMsetup.jpg ‎(721 × 569 billedpunkter, filstørrelse: 86 KB, MIME-type: image/jpeg)

Denne fil er fra Wikimedia Commons

Beskrivelse

Beskrivelse
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Dato 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Kilde

http://kristian.molhave.dk

Forfatter yashvant
Tilladelse
(Genbrug af denne fil)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
En vektorversion af dette billede (SVG) er tilgængelig. Det bør bruges i stedet for punktgrafikbilledet når det er fordelagtigt.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
På andre sprog
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
Nyt SVG-billede

Licensering

w:da:Creative Commons
kreditering
Denne fil er udgivet under Creative Commons Navngivelse 2.5 Generisk-licensen
Du må frit:
  • at dele – at kopiere, distribuere og overføre værket
  • at remixe – at tilpasse værket
Under følgende vilkår:
  • kreditering – Du skal give passende kreditering, angive et link til licensen, og oplyse om der er foretaget ændringer. Du må gøre det på enhver fornuftig måde, men ikke på en måde der antyder at licensgiveren godkender dig eller din anvendelse.

Captions

Tilføj en kort forklaring på en enkelt linje om hvad filen viser

Elementer som er med i denne fil

afbilder

medietype

image/jpeg

checksum

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

bestemmelsesmetode: SHA-1 engelsk

datastørrelse

88.071 Byte

højde

569 pixel

bredde

721 pixel

Filhistorik

Klik på en dato/tid for at se filen som den så ud på det tidspunkt.

Dato/tidMiniaturebilledeDimensionerBrugerKommentar
nuværende21. nov. 2006, 16:10Miniature af versionen fra 21. nov. 2006, 16:10721 × 569 (86 KB)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

Global filanvendelse

Følgende andre wikier anvender denne fil:

Vis flere globale anvendelser af denne fil.

Hentet fra "https://da.wikipedia.org/wiki/Fil:AFMsetup.jpg"